仪器名称：场发射电子探针

厂家：日本电子 JEOL

规格型号：JEOL  JXA - iHP200F

购置时间：2024年

开展实验：

（1）背散射图像（BSE）

（2）二次电子图像（SEI）

（3）主量元素的面扫描分析

（4）造岩矿物（包括氧化物、硅酸盐、磷酸盐、硫酸盐、碳酸盐矿物）的主量元素含量分析

（5）特定矿物（如石英、橄榄石、金红石等）的微量元素定量分析

（6）矿物和硅酸盐玻璃的挥发分（如B、F、Cl等）含量分析

（7）矿物和硅酸盐玻璃的Fe价态分析

主要技术指标：电子枪: 浸没式肖特基场发射 ；分辨率: ≤0.1 微米 ；图像获取: SE, BSE, CL ；成分扫描: 波谱/能谱一体化 ；相分析: Phase Map Maker软件 ；分析元素: 5B ~ 92U ；分光晶体: 9 种 ；谱仪道数: 5 道 。

主要功能和用途：固态样品表面形貌、元素分布和微区成分分析。

收费标准：自助使用800元/小时；